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鍍層厚度分析

鍍層厚度分析

檢測目的: 檢測材料表面的金屬覆蓋層的厚度及其均勻性
檢測范圍: 鍍層、涂層、化學生成膜等
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項目介紹

鍍層是為了好看或儲藏而涂在某些物品上的金屬表面涂上一層塑料,或者一層稀薄的金屬或為仿造某種貴重金屬,在普通金屬的表面鍍上這種貴重金屬的薄層。鍍層厚度測試檢測材料表面的金屬和氧化物覆層的厚度測試。

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測試方法

金相法

利用金相顯微鏡原理,對鍍層厚度進行放大,以便準確的觀測及測量。

庫侖法

利用適當?shù)碾娊庖宏枠O溶解精確限定面積的覆蓋層,電解池電壓的急劇變化表明覆蓋層實質上完全溶解,經過所耗的電量計算出覆蓋層的厚度。因陽極溶解的方法不同,被測量覆蓋層的厚度所耗的電量也不同。

X-ray 方法

X射線光譜方法測定覆蓋層厚度是基于一束強烈而狹窄的多色X射線與基體和覆蓋層的相互作用。此相互作用產生離散波長和能量的二次輻射,這些二次輻射具有構成覆蓋層和基體元素特征。覆蓋層單位面積質量(若密度已知,則為覆蓋層線性厚度)和二次輻射強度之間存在一定的關系。

檢測標準
測試項目測試方法檢測標準標準名稱樣品要求
鍍層厚度分析
金相法GB/T 6462-2005金屬和氧化物覆蓋層 厚度測量 顯微鏡法1.可切取橫斷面

2.鍍層、基材顏色有區(qū)別才適用此方法

3.金相法測試的最佳精度為0.8um,故盡量考慮2um以上的鍍層測試

JIS H8501-1999金屬覆層的厚度試驗方法
ISO 1463-2021金屬和氧化物涂層--涂層厚度的測量--顯微鏡法
AS 2331.1.1-2001/
X射線熒光法(XRF)GB/T 16921-2005金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量 X射線光譜方法1. 須知悉基材牌號及鍍層類型

2. 較軟鍍層如金、銀、錫

ISO 3497-2000金屬鍍層.鍍層厚度的測量.X射線光譜測定法
DIN EN ISO 3497-2001金屬鍍層.鍍層厚度測量.X射線光譜法
JIS H8501-1999金屬覆層的厚度試驗方法
掃描電鏡測試

ASTM B748-90-2021

通過掃描電子顯微鏡測量橫截面來測量金屬涂層厚度的標準測試方法測試制樣和注意事項同金相法。


試驗步驟

取樣→清洗→真空鑲嵌→研磨→拋光→微蝕(如有必要)→噴金(如有必要)→觀察。


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