ISO15848-1檢測(cè)：試驗(yàn)流體應(yīng)為濃度至少為97%的氦氣或者甲烷，切斷閥根據(jù)其耐久等級(jí)，選擇205次、1500次、2500次機(jī)械循環(huán)，控制閥選擇20000次、60000次、100000次機(jī)械循環(huán)。并根據(jù)不同的耐久等級(jí)，在室溫至測(cè)試溫度之間進(jìn)行多次熱循環(huán)。ISO15848-1根據(jù)耐久等級(jí)不同，測(cè)試過程中可以對(duì)閥桿密封進(jìn)行1-3次的調(diào)整，閥桿密封的泄漏量用袋裝法或者真空法進(jìn)行測(cè)量，而閥體密封處的泄露量測(cè)量使用嗅探法。

只有當(dāng)閥桿密封最大泄露量不超過其泄露等級(jí)允許的最大泄露量時(shí)，閥體密封不超過50PPMV時(shí)，被測(cè)閥門被認(rèn)為通過該等級(jí)測(cè)試，并可標(biāo)注ISO-FE信息。

ISO 15848-1:2006 工業(yè)閥門漏氣的測(cè)量、試驗(yàn)和鑒定程序第 1 部分 閥門的分類體系和型式試驗(yàn)鑒定程序：

根據(jù)待測(cè)試閥門的設(shè)計(jì)溫度、壓力，按照標(biāo)準(zhǔn)選擇合適的測(cè)試環(huán)境進(jìn)行低泄漏型式測(cè)試。測(cè)試介質(zhì)為純度97%以上的甲烷或者氦氣。性能等級(jí)分為：溫度等級(jí)、耐久等級(jí)、密封等級(jí)三項(xiàng)。

1.3技術(shù)要求 

a) 氦氣監(jiān)測(cè)儀器的類型要包括(但并不僅限于)質(zhì)譜分析、紅外吸收和分子篩網(wǎng)。 

b) 儀器的線性反應(yīng)量程和測(cè)量量程應(yīng)包含規(guī)范所要求的泄漏濃度范圍。氦氣經(jīng)探頭稀釋后達(dá)到量程范圍也可以，但是氦氣取樣探頭直徑的技術(shù)要求仍然必須滿足。 

c) 在檢測(cè)不可測(cè)量的泄漏時(shí)，儀器表盤精度需為泄漏標(biāo)準(zhǔn)濃度的±2..5% 

d) 儀器要配有電動(dòng)泵，以確保取樣在瞬間流速內(nèi)被送達(dá)探頭。 探頭流速需在 0.5 升/分鐘到 1.5升/分鐘之間。 

e) 儀器需配有探頭或者伸長探頭以用于取樣，探頭外圓不得超過 1/4 英寸。 探頭帶有單頭開口以用于取樣。 

1.4試驗(yàn)要求 

1.4.1溫度影響 

1.4.2天氣時(shí)間 

1.4.3安全 

1.5泄漏量測(cè)量 

1.5.1 校準(zhǔn)程序 

按照制造商的操作指導(dǎo)書安裝并開始氦氣分析儀。在適當(dāng)?shù)臒釞C(jī)并內(nèi)部校零后，將校準(zhǔn)氣體引入儀器標(biāo)準(zhǔn)探頭。 調(diào)整儀器讀數(shù)對(duì)應(yīng)到校準(zhǔn)氣體值。 注：如果儀器讀數(shù)不能調(diào)整到合適的數(shù)值，分析儀將顯示故障。 

1.5.2 測(cè)量 

按制造商規(guī)定啟動(dòng)氦質(zhì)譜儀，電子元器件熱機(jī)。 

a) 校準(zhǔn)；

b) 背景噪聲測(cè)量：每次測(cè)量前，對(duì)泄漏源附近大氣中的氦濃度進(jìn)行確定，方式是在泄漏源附近 1-2 米處隨機(jī)移動(dòng)探頭。如果大氣氦氣濃度跟附近的泄漏濃度有干涉， 大氣濃度的確定可以更靠近泄漏源，但是最近不得低于 25 厘米。 

c) 探頭盡可能靠近潛在泄漏源，也就是：閥桿伸出填料處的交界； 閥體密封件的外緣。  

d) 沿著交界圓周移動(dòng)探頭同時(shí)觀察儀器讀數(shù)。 

e) 如果讀數(shù)上升，慢慢在泄漏處取點(diǎn)直到獲得最大讀數(shù)。 

f) 將探頭進(jìn)口置于讀數(shù)最大處，持續(xù)時(shí)間約為儀器響應(yīng)時(shí)間的兩倍。 

g) 然后操作者讀出最大值并記錄下來，記錄方式為：將探頭置于同一個(gè)地方，保持約兩倍的儀器響應(yīng)時(shí)間(即：對(duì)于 5-m 標(biāo)準(zhǔn)探頭，該時(shí)間約為幾秒鐘)。

h) 測(cè)量結(jié)果和背景噪聲之間的差別用以確定是否不存在可探測(cè)泄漏。 

i) 可探測(cè)泄漏使背景水平低于可接受泄漏水平(50 PPMV)。