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1.范圍

1.1本試驗(yàn)方法包括了通過(guò)火花源原子發(fā)射光譜法來(lái)同時(shí)測(cè)定碳素鋼和低合金中的20種合金和殘余元素，各元素質(zhì)量分?jǐn)?shù)范圍如下所示(注1)。

1.2 本試驗(yàn)方法包括了直徑大小足夠蓋住和密封火化架開(kāi)口的鏜孔的試樣分析方法。 根據(jù)光度計(jì)試樣架的設(shè)計(jì)情況，試樣的厚度可有很大不同，但已發(fā)現(xiàn)介于10mm和38mm之間的某一厚度是最適合的。

1.3 本方法包括了鋼鐵冶煉過(guò)程中的常規(guī)控制分析以及已加工材料的分析。適用于鑄態(tài)和鍛軋樣品的分析。當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)樣 品與試樣具有相同的冶金條件和成分時(shí)，可獲得較好的測(cè)試效果。然而，對(duì)于本標(biāo)準(zhǔn)的所有應(yīng)用，這是不需要的。

1.4 本標(biāo)準(zhǔn)并沒(méi)有完全列舉所有的安全聲明，如果有必要，根據(jù)實(shí)際使用情況進(jìn)行期酌。使用本規(guī)范前，使用者有責(zé)任制定符合安全、健康和環(huán)保要求的條例和規(guī)范，并明確該規(guī)范的使用范圍。

1.5 本國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)是根據(jù)國(guó)際公認(rèn)的標(biāo)準(zhǔn)化原則制定的。該標(biāo)準(zhǔn)化原則在世界貿(mào)易組織技術(shù)性貿(mào)易壁壘(TBT) 委員會(huì)發(fā)布的《國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)，指南及建議制定原則》中的決議予以確立。

2、方法概述
2.1 在圓盤試樣的平坦、磨光的表面與圓錐形的電極之間產(chǎn)生電容放電。放電會(huì)在選定的鐵譜線強(qiáng)度預(yù)定的積分時(shí)間或在預(yù)定時(shí)間停止，記錄分析線的相對(duì)輻射能。砷、硼、碳、氮、磷、硫和錫的最敏感線位于真空紫外線區(qū)域。該區(qū) 域內(nèi)空氣對(duì)輻射的吸收通過(guò)分光計(jì)排氣或使用一種真空紫外線(VUV) 透明氣體和使用氫氣沖洗火花箱來(lái)克服。

3、重要性和使用意義

3.1 該金屬和合金光譜分析方法主要用于測(cè)試符合成分規(guī)范的材料。人們認(rèn)為本分析方法的使用者應(yīng)為能熟練而安全地進(jìn)行實(shí)驗(yàn)室常規(guī)試驗(yàn)的分析師。分析將會(huì)有適當(dāng)儀器裝備的實(shí)驗(yàn)室內(nèi)進(jìn)行。

4、試劑和材料

4.1 對(duì)電極——對(duì)電極可為銀棒或鎢棒或其他材料，前提條件是這些材料能試驗(yàn)證明可獲得等效的精密度和偏差。棒的直 徑為1.5mm- 6.5mm (取決于儀器的設(shè)計(jì))并且一般頂角加工成90°或120°。

4.1.1 黑色沉積物會(huì)在電極的頂端堆積，位于試樣間的黑色沉積物應(yīng)給予清除( 一般用鋼絲刷)。如果沒(méi)有清除，沉積物可降低光譜輻射的總體強(qiáng)度或在試樣間傳遞微量的污染物。儀器間電極上可接受的激發(fā)次數(shù)有所不同并且應(yīng)在每個(gè)實(shí)驗(yàn)室內(nèi)確定。

4.2 惰性氣體，氬氣，依照規(guī)程E406。

5、校準(zhǔn)、標(biāo)定和檢驗(yàn)

12.1 校準(zhǔn)——使用給出的條件，以隨機(jī)時(shí)序測(cè)量校準(zhǔn)樣品和潛在的漂移校正樣本，將用作控制樣品的激發(fā)材料放在支架上。(校準(zhǔn)樣品可隨后用作為一種控制樣品) 。每種元素應(yīng)至少有3個(gè)校準(zhǔn)樣品，包括要求的質(zhì)量分?jǐn)?shù)范圍。分別測(cè)量每一種校準(zhǔn)樣品、漂移校正樣品和控制樣品2~4次，并使用平均值。如果分光計(jì)系統(tǒng)和軟件允許，使用不同的隨機(jī)時(shí)序至少重復(fù)兩次。采用每 點(diǎn)數(shù)據(jù)的平均值，按照規(guī)程E305指導(dǎo)在分光計(jì)制造商軟件中確定分析曲線。

5.2 校準(zhǔn)一 依照制造廠的建議，對(duì)初始設(shè)置進(jìn)行校準(zhǔn)或在已知或懷疑讀數(shù)出現(xiàn)漂移時(shí)進(jìn)行校準(zhǔn)。通過(guò)調(diào)整讀出數(shù)的控制或采用算術(shù)校正來(lái)進(jìn)行必要的校正。校準(zhǔn)將在檢驗(yàn)顯示讀數(shù)已經(jīng)偏離統(tǒng)計(jì)控制時(shí)進(jìn)行。在由分光計(jì)軟件執(zhí)行自動(dòng)校正的場(chǎng)合，觀察校準(zhǔn)因乎或偏移或兩者。在校準(zhǔn)或在記錄文件內(nèi)儲(chǔ)存之后，該校準(zhǔn)因子或偏移或兩者通常在分光計(jì)軟件內(nèi)顯示。該信息的訪問(wèn)參考您的儀器手冊(cè)或咨詢儀器制造商。

5.3 校準(zhǔn)——每次校準(zhǔn)后以及依照5.3.2要求即刻檢驗(yàn)校準(zhǔn)是否有效。

5.3.1 依照第13節(jié)分析控制樣品。如果結(jié)果超出12.4中確定的控制限值，則重新校準(zhǔn)一次或調(diào)查儀器故障原因。

5.3.2 每個(gè)實(shí)驗(yàn)室應(yīng)根據(jù)統(tǒng)計(jì)分析確定必要的檢驗(yàn)頻次。一般每4h- 8h一次是實(shí)用而充足的。如果結(jié)果不在12.4中確定的控制限值范圍內(nèi)，則重新校準(zhǔn)并重新檢驗(yàn)一次。 如有必要，重復(fù)校準(zhǔn)以便檢驗(yàn)結(jié)果在控限極限值內(nèi)或進(jìn)一步調(diào)查儀器的問(wèn)題。

5.4 質(zhì)量控制——依照ASTM MNL 7A，規(guī)程E1329和其他等效的控制程序來(lái)確定控制限值。

以上就是無(wú)錫力博為大家總結(jié)的關(guān)于ASTM E415-2021 碳素鋼和低合金鋼火花源原子發(fā)射光譜分析標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法，如果您有成分分析的相關(guān)檢測(cè)需求，歡迎前來(lái)咨詢，我們會(huì)有專業(yè)的項(xiàng)目工程師為您答疑解惑，期待您的來(lái)電！